領先全球 台灣經經濟部標準檢驗局成功開發雙光梳光頻量測技術

經濟部標準檢驗局國家度量衡標準實驗室成功開發「雙光梳絕對光頻量測技術」，該技術不需要藉由波長儀提供概略的頻率，就可以絕對量測波長介於1050奈米(nm)至2100nm之間任何未知雷射的頻率，頻率的準確度初步估計可達到10-12，可以提供光通訊產業和學術研究單位精密光頻率的量測需求，將來透過倍頻技術，絕對光頻量測範圍可以延伸到525nm至1050nm，這項先進技術將有助於光通訊產業開發前瞻的儀器和檢測設備。

隨著科技的演進，訊號的傳輸方式從較早的微波傳送，逐漸轉變成為具有更高效率的光傳輸，為確保傳輸品質，其中光頻率的量測顯得格外重要。標準檢驗局表示，「雙光梳絕對光頻量測技術」已突破傳統的複雜光頻量測方法，而且未來還可結合相關器材，發展成為便於使用的攜帶型儀器，這項新技術的特點是直接透過所謂的「鎖模雷射光梳」，簡稱為光梳，更精準地測量光的頻率。

究竟該如何測量光的頻率?標準檢驗局表示，雖說光梳是量測光頻率的一把尺，但其實這把尺上面有刻線卻沒有標明刻度，而這項技術獨特之處即在於利用「雙」光梳同時量測光頻，清楚地將刻度標定出來。目前，該技術已經申請多國專利，並將陸續發表在多項國際會議及期刊。

在技術衍生與應用方面，「雙光梳絕對光頻量測技術」將利於設計與研發超寬頻域的光頻率計數器、光頻率合成器、高解析度光頻率頻譜分析儀。當今微波領域的相對應儀器，幾乎是國外大廠的天下，但在光頻領域，國內的先進研發則可能扭轉情勢，甚至有機會讓台灣成為世界首屈一指的研發重鎮。

標準檢驗局陳介山局長表示，雖然國內的研究資源遠比國外短缺，但國家度量衡標準實驗室委託工研院量測中心之研究同仁能在眾多世界級的研究群中找到突破點，實屬難能可貴。接下來，研究團隊將於該研發領域持續精進，繼續於光頻計量領域中開創出更多突破性關鍵技術。

經濟部標準檢驗局今天表示，標檢局國家度量衡標準實驗室領先全球成功開發「雙光梳絕對光頻量測技術」，不須藉由波長儀提供概略的頻率，即可絕對量測波長介於1050至2100奈米之間任何未知雷射的頻率，有助光通訊產業開發前瞻儀器及檢測設備，目前已申請多國專利。


標檢局指出，這項新技術的特點是直接透過「鎖模雷射光梳」（簡稱光梳），精準測量光的頻率，突破傳統的複雜光頻量測方法，未來還可結合相關器材，發展便於使用的攜帶型儀器。
標檢局表示，光梳是量測光頻率的一把尺，但事實上，這把尺有刻線卻沒有標明刻度，這項新技術利用「雙」光梳同時量測光頻，清楚地將刻度標定出來，目前已申請多國專利，並將在國際會議及期刊上發表。

標檢局指出，雙光梳絕對光頻量測技術有助設計研發超寬領域的光頻率計數器、光頻率合成器、高解析度光頻率頻譜分析儀。