智原科技推出0.13微米OCV元件資料庫

智原科技(Faraday Technology)宣佈推出整合晶片上變異性(On-Chip Variation；OCV)資訊的元件資料庫。這項基於邏輯層級、實體位置與所使用不同的元件，以及模擬0.13微米設計中統計製程上變量(LLC-OCV)的元件庫/時序分析方法，可有效改進靜態時序分析在0.13微米以下晶片設計的準確性及效能，尤其適用於晶片面積較大及邏輯層級較複雜的設計。

該整合於元件資料庫的LLC-OCV技術可用以模擬0.13微米及90奈米設計上不可忽略的晶片統計製程變量。智原的LLC-OCV元件資料庫/時序分析方法可提高靜態時序分析的正確性，降低電路設計的時序收斂設計成本，並能提升0.13微米簽核(signoff)時序的效能。由於具備0.13微米元件庫/時序分析方法，智原科技的先進LLC-OCV不但容易使用，並能夠大幅縮小晶片面積，加速產品上市時程，同時確保生產的高良率。

傳統的OCV技術在0.13微米設計中，因使用固定的降額因子(derating factor)，而造成效能的降低、較大的晶片面積及較長的設計週期等效能損失。智原的先進OCV元件庫/時序分析方法，則使用多變的降額因子，為每個時序路徑選擇理想的降額因子，是基於邏輯層級/實體位置/所使用不同的元件來進行模擬的技術。因此，該新技術可提升時序分析的準確性，消除多餘的時序衝突，使得設計團隊快速達成時序收斂。

智原0.13微米LLC-OCV元件庫已通過製程驗證，包含即將推出的90奈米系列，均支援目前主流的工業標準EDA工具。智原科技0.13微米OCV高速元件庫目前已可有客戶開始導入，90奈米系列亦將於2007年第一季正式推出。